CCD vs. CMOS: Image Artifacts to Consider with CMOS Image Sensors
与CMOS图像传感器的高分辨率和框架速度组合非常有吸引力,并且是使用工业相机转移CMO的主要驱动因素。 CMOS图像传感器的考虑是存在的不同类型的缺陷以及相机制造商是否为其纠正。
我们对这项技术进行了彻底的研究,以便尽可能与CMOS图像传感器接近CCD图像质量。 有些人知道的缺陷相对容易纠正,但有些缺陷更具挑战性的缺陷,例如依赖温度的缺陷。
最著名的缺陷是:
*像素缺陷:单个,簇,行,列
- dsnu(暗信号不均匀)
- PRNU(像素响应非均匀性)
一些较少了解的缺陷包括列噪声,线噪声和黑色级别移动(请参见下图)。 这些更难纠正,因为它们取决于图像内容。
列噪声线噪声黑色级别移动
缺陷像素校正和扁平场校正是校正的示例,最好在相机中实现。
就像在几乎每种情况下一样,最好消除来源的问题。 它在此过程中进一步减少了噪音和其他问题。 在这种情况下,纠正摄像机中的工件具有以下优点:
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相机制造商对传感器有深入的了解
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在相机中您有更多可用的位
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在相机中,您有更多可用信息(例如温度)
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它节省了处理能力 - 系统成本(开发 + BOM)
例如,新的像素缺陷将随着时间的流逝而可见 - 因此,如果可以将新的缺陷地图上传到相机,这将是有利的。 或者,dsnu是温度(和增益)依赖性的,因此必须定期对校正进行刷新。
高端(计量)应用需要此类校正才能达到所需的精确性和准确性。
Source: CCD vs. CMOS: Image Artifacts to Consider with CMOS Image Sensors