在今年的AOI论坛和展览会（2017年9月28日）中，Imaging Source与MIM Tech软件和Hi Keen Tech镜头合作，介绍了高度的成像解决方案，** IC Ivision **。 成像源的“ 33系列” ** DMK 33GP1300 ** GIGE摄像机与Hi Keen的低距离镜头和MIM Tech的图像处理库配对，以演示动态对象跟踪和表面缺陷检查。

IC IVISION显示屏具有DMK 33GP1300 GIGE相机，Hi Keen的远程镜头和MIM Tech的软件。

作为电气和计算机工程研究和研究的主要大学，台湾的北丘大学国家谷大学的校园是一日演出的理想场所。 每年，AOIEA都会主持该节目，主要是为参与自动化光学检查的学生和研究人员的交流论坛。 集成商，组件供应商，设备制造商，学术研究人员和学生熟悉硬件和软件的最新行业发展。

Source: Dynamic Object Tracking at AOI Forum & Show 2017