New JAI line scan camera provides simultaneous and separate imaging of R-G-B + short wave infrared (SWIR) light
JAI 宣布推出一款新型工业棱镜线扫描相机。新相机型号 (SW-4010Q-MCL) 采用 4 传感器线扫描技术,可在三个独立的 CMOS 传感器上同时收集红、绿和蓝色图像数据,另外还有一个从短波红外线收集图像数据的传感器 ( SWIR)光谱使用基于砷化铟镓 (InGaAs) 技术的传感器。
探索新的 Sweep+ 模式
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新的 SW-4010Q-MCL 型号加入了 JAI 现有的 Sweep+ 系列 3-CMOS R-G-B 和 4-CMOS R-G-B-NIR 线扫描相机,从而将多光谱成像扩展到 SWIR 电磁波段。
就像 JAI 的 4-CMOS R-G-B-NIR 相机一样,红外通道可以揭示在可见光范围内无法观察到的“隐藏”图像数据。
但由于短波红外光在光吸收、透射和反射方面与近红外光(与物体相互作用时)具有不同的物理行为,因此它为从物体表面下方收集图像数据提供了新的机会,从而能够揭示隐藏的和不需要的图像。被检查项目的缺陷。
Sweep+ 4 传感器摄像头的优势:
在机器视觉系统中,需要使用可见光和短波红外光进行成像以确保所需的质量水平,SW-4010Q-MCL 相机可在单个检查程序中提供可见光/短波红外图像。
将 CMOS 和 InGaAs 图像传感器组合在同一台工业相机中,可以通过三个 CMOS 传感器收集可见光数据(400 ~ 700 nm)来执行高级色彩检测,同时通过第四个 InGaAs 传感器获取图像数据光波在800 nm~1700 nm范围内。
其结果是降低了机器视觉系统的设置复杂性和硬件成本,这些系统需要在可见光和短波红外光范围内进行检查。因此,短波红外成像可以为一系列应用提供更好的机器视觉检测效率。
三个 CMOS 线传感器中的每一个的分辨率均为 4096 像素,像素尺寸为 7.5 µm x 7.5 µm,传感器宽度为 30.72 mm,全分辨率下最大扫描速率为 20.6 kHz。相比之下,InGaAs 线传感器提供 1024 像素的分辨率、25 µm 方形像素、25.6 mm 的传感器宽度和 39 kHz 的全分辨率扫描速率。
可以应用特殊的 Xscale 函数来协调两种传感器类型之间的视场 (FOV) 和扫描速率:
如果视觉设计师的目标是使两种传感器类型具有相同的视场 (FOV),则相机具有特殊版本的 JAI 像素重新缩放功能 (Xscale),可以手动或自动调整“虚拟”像素大小R-G-B 传感器。与手动或自动 ROI 调整结合使用,可以获得两种不同传感器类型的相同传感器宽度和扫描速率。
改进机器视觉系统的更多有用功能:
SW-4010Q-MCL 具有内置颜色转换功能,可根据需要以 HSI 或 CIE XYZ 颜色格式提供颜色输出,并提供从标准 RGB 到 sRGB 或 Adobe RGB 颜色空间的转换,或甚至是用户定义的自定义 RGB 转换矩阵。其他功能包括四个通道中每个通道的单独增益和快门控制、双流数据输出(单独数据流中的 RGB 和 SWIR)、触发和编码器控制以及降噪滤波器等。
用于处理可见光和短波红外光的特殊镜头:
JAI 还提供了一种特殊的镜头(单独出售),该镜头经过优化,可以处理可见光和短波红外光。该相机配备双 Mini Camera Link 接口和 M52 镜头卡口。
新型 JAI 4 传感器 R-G-B-SWIR 相机在哪些应用中具有价值?
||| | | | ||***水果、蔬菜和坚果检测:***短波红外光可以更深入地穿透材料,并且对物体内所含的水分子也具有高吸收水平。这使得短波红外成像特别适合水果、蔬菜和坚果检查等应用,因为早期腐烂、腐烂和碰伤(通常是含水量较高的区域)在短波红外光谱中显示得更清楚,在图像上显示为较暗的阴影。这使得具有这些缺陷的物品能够在包装前更容易地被识别并从传送带上移除。
||| | | | |*半导体检测:*半导体行业中的检测系统可用于发现硅晶圆表面以及表面以下的缺陷,因为这些材料在短波红外波段具有高光谱透射率。||
||| | | | ||*药品检测:*在药品检测应用中,例如,相机可以检查外部成品包装(查看彩色印刷和包装完整性),同时透过不透明的塑料包装和容器进行检查用于液体或粉末的正确含量或填充水平。|
||| | | | |*电池检查:*完美的电池对于安全性、能量密度和防止早期退化至关重要。 JAI 的线扫描相机可用于检查电极片上的划痕、凹痕、凹坑、气泡、夹杂物和孔等缺陷。
更多应用:
其他应用包括与彩色瓷砖和纺织品等物品的制造相关的各种网络检查(检查染色的纺织品是否足够干燥以进行进一步加工)。该相机还可以在不同塑料类型的废物分类、矿物分类和农业/林业应用。